Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Chakraborty, Kanad
Otros Autores: Mazumder, Pinaki
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: New Delhi Pearson Education 2002
Materias:
RAM- fault tolerance > Computer memory > Computer science

UL

Detalle de Existencias desde UL
Número de Clasificación: 004.332.3 CHA
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