Učitavanje...

Physics of thin films: advances in research and development

Bibliografski detalji
Daljnji autori: Francombe, Maurice H. (Urednik), Vossen, John L.
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: New York Academic Press 1993
Teme:
Opis
Opis djela: V.17: Mechanic and dielectric properties
Opis:xiii, 397p.
ISBN:0-12-533017-0