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Physics of thin films: advances in research and development

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Francombe, Maurice H. (Éditeur intellectuel), Vossen, John L.
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New York Academic Press 1993
Sujets:
Description
Description: V.17: Mechanic and dielectric properties
Description matérielle:xiii, 397p.
ISBN:0-12-533017-0