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Physics of thin films: advances in research and development

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Francombe, Maurice H. (HerausgeberIn), Vossen, John L.
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Academic Press 1993
Schlagworte:
Beschreibung
Beschreibung: V.17: Mechanic and dielectric properties
Beschreibung:xiii, 397p.
ISBN:0-12-533017-0