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VLSI test principles and architectures: design for testability

书目详细资料
主要作者: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
其他作者: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
格式: Printed Book
语言:English
出版: Amsterdam Elsevier 2006
丛编:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
主题:

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索引号: 621.3.049.77 WAN
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