载入...
VLSI test principles and architectures: design for testability
主要作者: | |
---|---|
其他作者: | , |
格式: | Printed Book |
语言: | English |
出版: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
丛编: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
主题: |
UL
索引号: |
621.3.049.77 WAN |
---|---|
复印件 | Live Status Unavailable |