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VLSI test principles and architectures: design for testability
主要作者: | |
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其他作者: | , |
格式: | Printed Book |
語言: | English |
出版: |
Amsterdam
Elsevier
2006
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叢編: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
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主題: |
UL
索引號: |
621.3.049.77 WAN |
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復印件 | Live Status Unavailable |