Загрузка...
VLSI test principles and architectures: design for testability
Главный автор: | |
---|---|
Другие авторы: | , |
Формат: | Printed Book |
Язык: | English |
Опубликовано: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
Серии: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
Предметы: |
UL
Шифр: |
621.3.049.77 WAN |
---|---|
Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |