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VLSI test principles and architectures: design for testability
| Autor principal: | |
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| Outros Autores: | , |
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Amsterdam
Elsevier
2006
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| coleção: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
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| Assuntos: |
UL
| Área/Cota: |
621.3.049.77 WAN |
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| Cópia | Informação em tempo real indisponível |