VLSI test principles and architectures: design for testability

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Otros Autores: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Amsterdam Elsevier 2006
Colección:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Materias:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

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Número de Clasificación: 621.3.049.77 WAN
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