Loading...

VLSI test principles and architectures: design for testability

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Andre forfattere: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Format: Printed Book
Sprog:English
Udgivet: Amsterdam Elsevier 2006
Serier:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Fag:

UL

Detaljer om beholdninger fra UL
Klassifikationsnummer: 621.3.049.77 WAN
Kopi Live Status Unavailable