Загрузка...
VLSI test principles and architectures: design for testability
Главный автор: | Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by) |
---|---|
Другие авторы: | Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.] |
Формат: | Printed Book |
Язык: | English |
Опубликовано: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
Серии: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
Предметы: |
Схожие документы
-
VLSI handbook
по: Giacomo, Joseph Di, Ed
Опубликовано: (1989) -
Basic VLSI design
по: Pucknell,Douglas A
Опубликовано: (2008) -
VLSI design
по: Kishore, Lal K
Опубликовано: (2011) -
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
по: Wang, Laung-Terng
Опубликовано: (2008) -
VLSI technology
по: Sze, S.M
Опубликовано: (2005)