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VLSI test principles and architectures: design for testability
| 主要作者: | |
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| 其他作者: | , |
| 格式: | Printed Book |
| 语言: | English |
| 出版: |
Amsterdam
Elsevier
2006
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| 丛编: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
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| 主题: |
UL
| 索引号: |
621.3.049.77 WAN |
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| 复印件 | Live Status Unavailable |