載入...
VLSI test principles and architectures: design for testability
| 主要作者: | |
|---|---|
| 其他作者: | , |
| 格式: | Printed Book |
| 語言: | English |
| 出版: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
| 叢編: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
| 主題: |
UL
| 索引號: |
621.3.049.77 WAN |
|---|---|
| 復印件 | Live Status Unavailable |