VLSI test principles and architectures: design for testability

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Diğer Yazarlar: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Materyal Türü: Printed Book
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Amsterdam Elsevier 2006
Seri Bilgileri:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Konular:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Yer Numarası: 621.3.049.77 WAN
Kopya Bilgisi Konumu erişilebilir değil.

Benzer Materyaller