VLSI test principles and architectures: design for testability

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Övriga upphovsmän: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Materialtyp: Printed Book
Språk:English
Publicerad: Amsterdam Elsevier 2006
Serie:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Ämnen:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Beståndsuppgifter i UL
Signum: 621.3.049.77 WAN
Exemplar Status otillgänglig

Liknande verk