Загрузка...
VLSI test principles and architectures: design for testability
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
| Серии: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
| Предметы: |
UL
| Шифр: |
621.3.049.77 WAN |
|---|---|
| Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |