VLSI test principles and architectures: design for testability

Opis bibliograficzny
1. autor: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Kolejni autorzy: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: Amsterdam Elsevier 2006
Seria:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Hasła przedmiotowe:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 621.3.049.77 WAN
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana

Podobne zapisy