VLSI test principles and architectures: design for testability

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Andere auteurs: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Amsterdam Elsevier 2006
Reeks:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Onderwerpen:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 621.3.049.77 WAN
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items