VLSI test principles and architectures: design for testability

ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
अन्य लेखक: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
स्वरूप: Printed Book
भाषा:English
प्रकाशित: Amsterdam Elsevier 2006
श्रृंखला:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
विषय:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

होल्डिंग्स विवरण से UL
बोधानक: 621.3.049.77 WAN
प्रति लाइव स्थिति उपलब्ध नहीं है

समान संसाधन