VLSI test principles and architectures: design for testability

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
מחברים אחרים: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Amsterdam Elsevier 2006
סדרה:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
נושאים:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 621.3.049.77 WAN
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים