VLSI test principles and architectures: design for testability

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Muut tekijät: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: Amsterdam Elsevier 2006
Sarja:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Aiheet:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Saatavuus: UL
Hyllypaikka: 621.3.049.77 WAN
Nide Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa

Samankaltaisia teoksia