VLSI test principles and architectures: design for testability

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Beste egile batzuk: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Amsterdam Elsevier 2006
Saila:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Gaiak:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Aleari buruzko argibideak UL
Sailkapena: 621.3.049.77 WAN
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri

Antzeko izenburuak