VLSI test principles and architectures: design for testability

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Weitere Verfasser: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam Elsevier 2006
Schriftenreihe:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Schlagworte:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

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Signatur: 621.3.049.77 WAN
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