VLSI test principles and architectures: design for testability

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Další autoři: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Amsterdam Elsevier 2006
Edice:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Témata:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 621.3.049.77 WAN
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost

Podobné jednotky