VLSI test principles and architectures: design for testability

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Altres autors: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: Amsterdam Elsevier 2006
Col·lecció:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Matèries:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design

UL

Detall dels fons de UL
Signatura: 621.3.049.77 WAN
Còpia Comprovació en temps real no disponible

Ítems similars