A carregar...
VLSI test principles and architectures: design for testability
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | , |
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
| Colecção: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
| Assuntos: |
UL
| Área/Cota: |
621.3.049.77 WAN |
|---|---|
| Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |