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VLSI test principles and architectures: design for testability
| 主要作者: | |
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| 其他作者: | , |
| 格式: | Printed Book |
| 語言: | English |
| 出版: |
Amsterdam
Elsevier
2006
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| 叢編: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
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| 主題: |
| 實物描述: | xxx, 777p. |
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| ISBN: | 0-12-370597-5 |