Загрузка...

VLSI test principles and architectures: design for testability

Библиографические подробности
Главный автор: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Другие авторы: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Amsterdam Elsevier 2006
Серии:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Предметы:
Описание
Объем:xxx, 777p.
ISBN:0-12-370597-5