Загрузка...
VLSI test principles and architectures: design for testability
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
| Серии: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
| Предметы: |
| Объем: | xxx, 777p. |
|---|---|
| ISBN: | 0-12-370597-5 |