VLSI test principles and architectures: design for testability

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Andere auteurs: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Amsterdam Elsevier 2006
Reeks:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Onderwerpen:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xxx, 777p.
ISBN:0-12-370597-5

Gelijkaardige items