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VLSI test principles and architectures: design for testability
| 第一著者: | |
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| その他の著者: | , |
| フォーマット: | Printed Book |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Amsterdam
Elsevier
2006
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| シリーズ: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
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| 主題: |
| 物理的記述: | xxx, 777p. |
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| ISBN: | 0-12-370597-5 |