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VLSI test principles and architectures: design for testability

書誌詳細
第一著者: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
その他の著者: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: Amsterdam Elsevier 2006
シリーズ:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
主題:
その他の書誌記述
物理的記述:xxx, 777p.
ISBN:0-12-370597-5