VLSI test principles and architectures: design for testability

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by)
Altri autori: Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.]
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: Amsterdam Elsevier 2006
Serie:(Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
Soggetti:
Integrated circuits-very large scale integration-testing > Integrated circuits-very large scale integration-design
Descrizione
Descrizione fisica:xxx, 777p.
ISBN:0-12-370597-5

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