Ładuje się......

Stochastic reliability modeling, optimization and applications /

Opis bibliograficzny
1. autor: Nakamura, Syouji. ed
Kolejni autorzy: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Hasła przedmiotowe:

MAT

Szczegóły zapisu MAT
Sygnatura: 519.86:629.7.017.1 NAK
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana