Ładuje się......

Stochastic reliability modeling, optimization and applications /

Opis bibliograficzny
1. autor: Nakamura, Syouji. ed
Kolejni autorzy: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Hasła przedmiotowe:
Search Result 1
od Ed by Nakamura, Syouji
Wydane 2010
Printed Book