Wordt geladen...

Stochastic reliability modeling, optimization and applications /

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Nakamura, Syouji. ed
Andere auteurs: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Onderwerpen:
Search Result 1
door Ed by Nakamura, Syouji
Gepubliceerd in 2010
Printed Book