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Stochastic reliability modeling, optimization and applications /

Détails bibliographiques
Auteur principal: Nakamura, Syouji. ed
Autres auteurs: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Sujets:
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par Ed by Nakamura, Syouji
Publié 2010
Printed Book