Lanean...

Stochastic reliability modeling, optimization and applications /

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Nakamura, Syouji. ed
Beste egile batzuk: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Gaiak:
Search Result 1
nork Ed by Nakamura, Syouji
Argitaratua 2010
Printed Book