Načítá se...

Stochastic reliability modeling, optimization and applications /

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Nakamura, Syouji. ed
Další autoři: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Témata:
Search Result 1
Autor Ed by Nakamura, Syouji
Vydáno 2010
Printed Book