Á lódáil...

Stochastic reliability modeling, optimization and applications /

Sonraí Bibleagrafaíochta
Príomhúdar: Nakamura, Syouji. ed
Údair Eile: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio
Formáid: Printed Book
Teanga:English
Foilsithe: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Ábhair:

Míreanna Comhchosúla