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Applied cryptanalysis : breaking ciphers in the real world /

书目详细资料
主要作者: Stamp, Mark
其他作者: Low, Richard M.
格式: Printed Book
语言:English
出版: Hoboken, N.J. : John Wiley and sons, c2007.
主题:
实物特征
Item Description:"A John Wiley & Sons, Inc., publication."
实物描述:xix, 401 p. : ill. ;