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Applied cryptanalysis : breaking ciphers in the real world /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Stamp, Mark
Otros Autores: Low, Richard M.
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Hoboken, N.J. : John Wiley and sons, c2007.
Materias:
Descripción
Notas:"A John Wiley & Sons, Inc., publication."
Descripción Física:xix, 401 p. : ill. ;