Lanean...

Software reliability : measurement, prediction, application /

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Musa, John D.
Beste egile batzuk: Iannino, Anthony, Okumoto, Kazuhira
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York : McGraw-Hill, c1987.
Gaiak:
Deskribapena
Alearen deskribapena:Includes indexes.
Deskribapen fisikoa:xvii, 621 p. : ill. ;