טוען...

QR Code

Effect of disorder and defects in ion-implanted semiconductors: electrical and physiochemical characterization

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים:	Ghibaudo, Gerard (Editor), Christofides, Constantinos
פורמט:	Printed Book
שפה:	English
יצא לאור:	San Diego: Academic Press, 1997
סדרה:	Semiconductors and semimetals 45
נושאים:	Ion-implanted semiconductors. Semiconductors - Characterization X-ray diffraction techniques

פריטים דומים

Ion implantation : basics to device fabrication /
מאת: Rimini, Emanuele
יצא לאור: (1995)

Ion implantation
מאת: Dearnaley, G
יצא לאור: (1975)

Optical effects of ion implantation /
מאת: Townsend, P. D.
יצא לאור: (1994)

The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
מאת: Orton, J. W.
יצא לאור: (1990)

Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization
מאת: Haight, Richard; ed
יצא לאור: (2012)

Ion implantation of semiconductors
מאת: Carter, G
יצא לאור: (1976)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
מאת: Klug, Harold P.
יצא לאור: (1974)

Strain and dislocation gradients from diffraction spatially-resolved local structure and defects
מאת: Barabash, Rozaliya; ed
יצא לאור: (2014)

Semiconductor x-ray detectors /
מאת: Lowe, B. G., et al.

X-ray diffraction by disordered lamellar structures: theory and applications to microdivided silicates and carbons
מאת: Drits, Victor A
יצא לאור: (1990)

Photoinduced defects in semiconductors
מאת: Redfield, David
יצא לאור: (1996)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
מאת: Klug, Harold P.
יצא לאור: (1954)

Elements of x-ray diffraction /
מאת: Cullity, B. D.
יצא לאור: (1978)

X-ray diffraction: a practical approach
מאת: Suryanarayana, C
יצא לאור: (1998)

X-ray diffraction: a practical approach
מאת: Suryanarayana, C
יצא לאור: (1998)

Elements of X-ray diffraction
מאת: CULLITY.B.D and STOCK S.R
יצא לאור: (2001)

Basic concepts of X-ray diffraction
מאת: ZOLOTOYABKO,Emil
יצא לאור: (2014)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D; Stock S R
יצא לאור: (2018)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D; Stock S R
יצא לאור: (2018)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D; Stock S R
יצא לאור: (2018)

X-ray diffraction Procedures
מאת: Klug, Harold P; Alexander, Leroy E
יצא לאור: (1970)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D
יצא לאור: (1978)

X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
מאת: Fischer, Walter E
יצא לאור: (2012)

Diffraction X-ray optics /
מאת: Erko, A. I.
יצא לאור: (1996)

X-ray diffraction procedures
מאת: Klzig, Harold P.
יצא לאור: (1954)

Defect electronics in semiconductors
מאת: Matare, Herbert F
יצא לאור: (1971)

X-ray diffraction /
יצא לאור: (1974)

Multiple diffraction of x-rays in crystals /
מאת: Chang, Shih-Lin
יצא לאור: (1984)

X-ray diffraction
יצא לאור: (1974)

Elements of X-ray diffraction.
מאת: Cullity, B. D.
יצא לאור: (1956)

Coherent X-Ray Optics
מאת: Paganin, David
יצא לאור: (2007)

Basics of X-ray diffraction and its applications /
יצא לאור: (2007)

X-ray diffraction
מאת: Azaroff, Leonid V, et al
יצא לאור: (1974)

Disordered Semiconductors: physics and applications
מאת: Popv, Anatoly
יצא לאור: (2011)

Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures /
מאת: Holt, D. B.
יצא לאור: (2007)

Handbook of plasma immersion ion implantation and deposition
יצא לאור: (2000)

X-ray diffraction methods
מאת: Nziffield, E. W.

Disordered semiconductors physics and applications
מאת: Popov, Anatoly
יצא לאור: (2011)

Photoinduced defects in semiconductors /
מאת: Redfield, David
יצא לאור: (1996)

Ion-Solid Interactions Fundamentals and Applications /
יצא לאור: (1996)