تحميل...

QR رمز

Effect of disorder and defects in ion-implanted semiconductors: electrical and physiochemical characterization

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون:	Ghibaudo, Gerard (المحرر), Christofides, Constantinos
التنسيق:	Printed Book
اللغة:	English
منشور في:	San Diego: Academic Press, 1997
سلاسل:	Semiconductors and semimetals 45
الموضوعات:	Ion-implanted semiconductors. Semiconductors - Characterization X-ray diffraction techniques

مواد مشابهة

Ion implantation : basics to device fabrication /
بواسطة: Rimini, Emanuele
منشور في: (1995)

Ion implantation
بواسطة: Dearnaley, G
منشور في: (1975)

Optical effects of ion implantation /
بواسطة: Townsend, P. D.
منشور في: (1994)

The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
بواسطة: Orton, J. W.
منشور في: (1990)

Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization
بواسطة: Haight, Richard; ed
منشور في: (2012)

Ion implantation of semiconductors
بواسطة: Carter, G
منشور في: (1976)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
بواسطة: Klug, Harold P.
منشور في: (1974)

Strain and dislocation gradients from diffraction spatially-resolved local structure and defects
بواسطة: Barabash, Rozaliya; ed
منشور في: (2014)

Semiconductor x-ray detectors /
بواسطة: Lowe, B. G., وآخرون

X-ray diffraction by disordered lamellar structures: theory and applications to microdivided silicates and carbons
بواسطة: Drits, Victor A
منشور في: (1990)

Photoinduced defects in semiconductors
بواسطة: Redfield, David
منشور في: (1996)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
بواسطة: Klug, Harold P.
منشور في: (1954)

Elements of x-ray diffraction /
بواسطة: Cullity, B. D.
منشور في: (1978)

X-ray diffraction: a practical approach
بواسطة: Suryanarayana, C
منشور في: (1998)

X-ray diffraction: a practical approach
بواسطة: Suryanarayana, C
منشور في: (1998)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: CULLITY.B.D and STOCK S.R
منشور في: (2001)

Basic concepts of X-ray diffraction
بواسطة: ZOLOTOYABKO,Emil
منشور في: (2014)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D; Stock S R
منشور في: (2018)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D; Stock S R
منشور في: (2018)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D; Stock S R
منشور في: (2018)

X-ray diffraction Procedures
بواسطة: Klug, Harold P; Alexander, Leroy E
منشور في: (1970)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D
منشور في: (1978)

X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
بواسطة: Fischer, Walter E
منشور في: (2012)

Diffraction X-ray optics /
بواسطة: Erko, A. I.
منشور في: (1996)

X-ray diffraction procedures
بواسطة: Klzig, Harold P.
منشور في: (1954)

Defect electronics in semiconductors
بواسطة: Matare, Herbert F
منشور في: (1971)

X-ray diffraction /
منشور في: (1974)

Multiple diffraction of x-rays in crystals /
بواسطة: Chang, Shih-Lin
منشور في: (1984)

X-ray diffraction
منشور في: (1974)

Elements of X-ray diffraction.
بواسطة: Cullity, B. D.
منشور في: (1956)

Coherent X-Ray Optics
بواسطة: Paganin, David
منشور في: (2007)

Basics of X-ray diffraction and its applications /
منشور في: (2007)

X-ray diffraction
بواسطة: Azaroff, Leonid V, et al
منشور في: (1974)

Disordered Semiconductors: physics and applications
بواسطة: Popv, Anatoly
منشور في: (2011)

Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures /
بواسطة: Holt, D. B.
منشور في: (2007)

Handbook of plasma immersion ion implantation and deposition
منشور في: (2000)

X-ray diffraction methods
بواسطة: Nziffield, E. W.

Disordered semiconductors physics and applications
بواسطة: Popov, Anatoly
منشور في: (2011)

Photoinduced defects in semiconductors /
بواسطة: Redfield, David
منشور في: (1996)

Ion-Solid Interactions Fundamentals and Applications /
منشور في: (1996)