Načítá se...
Fundamental principles of engineering nanometrology
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Amsterdam,
Elsevier
2014.
|
| Vydání: | 2nd ed. |
| Témata: |
PHY
| Signatura: |
620.50287 LEA |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |