Fundamental principles of engineering nanometrology

other_versions_link
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Leach, Richard (Author)
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Amsterdam, Elsevier 2014.
מהדורה:2nd ed.
נושאים:
Nanotechnology
Microtechnology
Metrology
Search Result 1
Fundamental principles of engineering nanometrology
מאת LEACH,Richard
Printed Book
other_versions_search_link

פריטים דומים