Fundamental principles of engineering nanometrology

other_versions_link
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Leach, Richard (مؤلف)
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Amsterdam, Elsevier 2014.
الطبعة:2nd ed.
الموضوعات:
Nanotechnology
Microtechnology
Metrology
Search Result 1
Fundamental principles of engineering nanometrology
بواسطة LEACH,Richard
Printed Book
other_versions_search_link

مواد مشابهة