Φορτώνει......

Fundamental principles of engineering nanometrology

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Leach, Richard (Συγγραφέας)
Μορφή: Printed Book
Γλώσσα:English
Έκδοση: Amsterdam, Elsevier 2014.
Έκδοση:2nd ed.
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια