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Fundamental principles of engineering nanometrology
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Amsterdam,
Elsevier
2014.
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| Edição: | 2nd ed. |
| Assuntos: |
PHY
| Área/Cota: |
620.50287 LEA |
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| Cópia | Informação em tempo real indisponível |