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Fundamental principles of engineering nanometrology

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Leach, Richard (Autore)
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: Amsterdam, Elsevier 2014.
Edizione:2nd ed.
Soggetti:

PHY

Dettagli sul posseduto da PHY
Collocazione: 620.50287 LEA
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