טוען...
Fundamental principles of engineering nanometrology
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Amsterdam,
Elsevier
2014.
|
| מהדורה: | 2nd ed. |
| נושאים: |
PHY
| סימן המיקום: |
620.50287 LEA |
|---|---|
| עותק | סטטוס עדכני לא זמין |